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測量指標(biāo)：聚酰亞胺（PI）薄膜面密度/厚度一致性在線測量

測厚方案：銳奇超軟低能X射線在線測厚儀；

采用超軟低能的5KevX射線發(fā)射器，引進(jìn)德國前置放大電路和探測器技術(shù)，信噪比和穩(wěn)定性，適用于材料面密度/厚度一致性在線測量。

測量方式：掃描測量、定點(diǎn)測量、循環(huán)定點(diǎn)測量。

測量范圍：0 ~200g/㎡或 0~200μ； 測量重復(fù)性精度： ±0.1g/㎡ 或 ±0.1μm

功能模塊：在線測量、實(shí)時曲線與品質(zhì)數(shù)據(jù)顯示、五限品質(zhì)控制、多重超限預(yù)警/報警、

全價值海量數(shù)據(jù)存儲/追溯、歷史曲線復(fù)顯、自動SPC分析、自動生成品質(zhì)卷報

客戶案例：無錫SHX新材

材料與規(guī)格：單拉聚酰亞胺薄膜，厚度范圍5~100μmm

應(yīng)用現(xiàn)場：